更新时间:2024-07-16 13:23:48

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智能低下患儿的出现与哪些因素有关?

BY:Neoma 2024-07-16 13:23:48 156 ℃

易致智能低下患儿的3种因素

智能发育不全是指在胚胎或出生以后,由于各种原因造成中枢神经系统发育障碍,以智能障碍为主要特征的一组疾病。病因复杂,可分为以下几方面:

智能低下患儿的出现与哪些因素有关

1、胎内因素:母亲在妊娠早期曾患某些过敏性疾病病毒感染放射线照射,妊娠毒血症等都可以影响胎儿发育。因此孕妇应注意孕期卫生,在孕期防止各种可造成不利于胎儿的有害因素。

2、出生后因素:难产产钳分娩、负压吸引、脐带绕颈等可产生胎儿颅脑外伤,而造成智能障碍。有时婴幼儿高热脑炎脑膜炎等或全身感染,影响精神发育。原发性癫痫反复发作,亦可继发智能低一。

3、遗传及代谢障碍:已证明约10%智能发育不全病人与染色体畸变有关。近新结婚,子女易发生智能发育不全。另外还约有半数病人病因不明。对有家族遗传史的母亲在妊娠14-16周进行检查,决定是否需要终止妊娠

一般在生后头几个月内好象看不出有任何异常情况,但仔细观察,可发现生长发育迟缓在,抬头、凝视、坐、爬、立、说话等均与同龄儿童迟缓。以后逐渐出现智能减退。按智能缺损轻生分为白痴、痴愚和愚鲁三种。最严重的是白痴,不能说话,只能以简单音调表示喜、怒与要求,不能独立生活,不能逃避和防御危险。往往在婴儿期夭亡。痴愚的智能缺损也较重,但他们可学会说话,但口齿不清,词不达意。通过训练,可学会生活自理和做一些简单的操作。可活到成年。愚鲁的智能缺损较轻,能料理日常生活,可以上学,但学习成绩很差。他们理解力、判断力、分析力明显低下,易被坏人诱骗玩弄。按照智能发育不全病人活动特点,又可分为安定型和不安定型两种。

智能低下患儿的出现与哪些因素有关?

易致智能低下患儿的3种因素智能发育不全是指在胚胎或出生以后,由于各种原因造成中枢神经系统发育障碍,以智能障碍为主要特征的一组疾病。病因复杂,可分为以下几方面:智能低下患儿的出现与哪些因素有关1、胎内因素:母亲在妊娠早期曾患某些过敏性疾

生出智能低下儿的因素有哪些?

引起生出智能低下儿的因素智能发育不全是指在胚胎或出生以后,由于各种原因造成中枢神经系统发育障碍,以智能障碍为主要特征的一组疾病。病因复杂,可分为以下几方面:1、胎内因素:母亲在妊娠早期曾患某些过敏性疾病,病毒感染,放射线照射,妊娠毒血症

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